- 产品描述
MEGA-CHECK DX涂层测厚仪
使用两种测量技术来测量金属底材上的涂层的厚度。
首先,磁感应,即当基底是磁性(钢或铁)时,其次,电涡流法,即当底材是非磁性金属的(其他金属,如铝)时。多种探头可选择。您可以将许多专用探针连接到List Magnetik MEGA-CHECK DX涂层测厚仪。
一种全新开发的探针技术,由于其高采样率,可以进行非常稳定的测量。对于无干扰和的测量,信号已经在探头中数字化。测量非常准确、可重复测量。
使用两种测量技术来测量金属底材上的涂层的厚度。
首先,磁感应,即当基底是磁性(钢或铁)时,其次,电涡流法,即当底材是非磁性金属的(其他金属,如铝)时。多种探头可选择。您可以将许多专用探针连接到List Magnetik MEGA-CHECK DX涂层测厚仪。
一种全新开发的探针技术,由于其高采样率,可以进行非常稳定的测量。对于无干扰和的测量,信号已经在探头中数字化。测量非常准确、可重复测量。
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首先,磁感应,即当基底是磁性(钢或铁)时,其次,电涡流法,即当底材是非磁性金属的(其他金属,如铝)时。多种探头可选择。您可以将许多专用探针连接到List Magnetik MEGA-CHECK DX涂层测厚仪。
一种全新开发的探针技术,由于其高采样率,可以进行非常稳定的测量。对于无干扰和的测量,信号已经在探头中数字化。测量非常准确、可重复测量。
使用两种测量技术来测量金属底材上的涂层的厚度。
首先,磁感应,即当基底是磁性(钢或铁)时,其次,电涡流法,即当底材是非磁性金属的(其他金属,如铝)时。多种探头可选择。您可以将许多专用探针连接到List Magnetik MEGA-CHECK DX涂层测厚仪。
一种全新开发的探针技术,由于其高采样率,可以进行非常稳定的测量。对于无干扰和的测量,信号已经在探头中数字化。测量非常准确、可重复测量。
测量探头