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CMXdlCMXdl+,CMXdl+,CMXdl+超小型多层厚度(基体和涂层)测厚仪

CMXdl+,CMXdl+,CMXdl+超小型多层厚度(基体和涂层)测厚仪

型    号: CMXdl
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上海洪富仪器仪表有限公司CMXdl+,CMXdl+,CMXdl+超小型多层厚度(基体和涂层)测厚仪

  • 产品描述

上海洪富仪器仪表有限公司CMXdl+,CMXdl+ ,CMXdl+超小型多层厚度(基体和涂层)测厚仪

CMX系列超小型多层厚度(基体和涂层)测厚仪
 

◎      多种测量方式:

模式一:仅测量基体厚度

模式二:仅测量涂层厚度

模式三:同时测量基体和涂层的厚度

 

◎      多种显示模式
1. 数字式显示
2. B扫描显示
3. A扫描显示(仅CMX DL+

◎      增益可调节:超低、低、中、高、超高

◎      增益值zui高可到110dB

◎      自动增益控制(AGC)

◎      时间增益校正(TCG)

◎      探头自动识别,自动调零和温度补偿

◎      数据存贮:可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数

◎      可存储64个用户参数设置

◎      高速扫查(50次/秒)

◎      高达140HZ的脉冲重复频率

◎      B扫描显示用于显示被测材料的截面形状

◎      A扫描波形显示和RF显示(CMXDL+

◎     差值测量模式

◎     高速扫查功能可用于快速找到壁厚的zui小值

◎     上/下限声光报警功能

◎     zui大值、zui小值显示

◎     可通过软件与计算***进行数据交换,方便用户打印检测报告

 

 

性能参数

键    盘:12键按键

测量范围:界面波-底波(P-E)方式:  0.63-508mm
               带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式: 0.63-508mm
               多层测量(PECT)方式:  0.63-508mm(基体) 0.01-2.54mm(表面涂层)   

               穿透涂层测量(E-E)模式:  2.54­—102mm(因涂层的不同会有所变化)

               仅测量涂层(CT)模式:0.0127——2.54mm(因涂层的不同会有所变化)

显示精度:0.01mm(可方便的进行公制和英制的转换)

声速范围:1250-13995m/s

工作温度:-10℃—60℃

探头类型:1—10MHZ双晶探头

探头接口:LEMO“00”,可以使用MX、MMX系列测厚仪的探头

通讯接口:RS232接口(配备USB转RS232接头)

电池工作时间:150小时(3节5号碱性电池)100小时(3节5号镍镉电池)

省电功能:5分钟无任何操作后能自动关***

显 示 屏:62╳45.7mm(240 X 160像素),大数字厚度值显示(厚度值数字高度可达17.78mm)

外观尺寸:63.5X165X31.5MM

重量:382克

外壳:合金外壳

主机质保两年

联系人:刘浩宇
手机
13524456758
电话
86-021-56374192,56615309
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